analyser

Analyse de composés en phase liquide ou solide :

  • Spectromètre RMN Liquide : 400 MHz et 500 MHz
  • Spectromètre RMN Solide : 400 MHz et RMN 500 MHz
  • Spectomètre UV-VIS

Dosage des éléments C, H, N, S, O :

  • Micro-analyse Elémentaire

Microscopie métallographie optique

  • Microscope confocal
  • Rugosimètrie
  • Microscope inversé

Microscopie optique avec platine chauffante

Analyse de surface et de coupe et étude de la cristallisation des polymères semi-cristallins.

  • Microscope Olympus BX51 : Kit de polarisation, Platine chauffante Linkam THMS600
  • Leica DMLP : Kit de polarisation, Platine chauffante Linkam LTS350, Caméra Leica DFC295

Caractérisation de la surface du matériau par infrarouge :

  • Spectroscopie Infrarouge (FTIR ATR) pour l’In Situ et l’Operando
  • Cellules IR spécifiquement développées par l’un des laboratoires
  • Spectroscopie Raman pour l’In Situ et l’Operando

Microscopie Electronique :

Compréhension des relations entre les différentes propriétés et structures des matériaux de l’échelle microscopique à l’échelle nanoscopique.

  • Préparation d’échantillons pour les observations en microscope électronique : Polissage ionique (Cross polisher JEOL), Amincissement ionique de lames minces (Ion Slicer JEOL), Découpe ultra mince d’échantillons fragiles (Cryo ultra microtome LEICA)
  • 3 Microscope électronique à balayage (MEB), équipés de système d’analyse EDS, WDS, et EBSD
  • 4 Microscopes électroniques en transmission (MET), équipés de caméra CCD et de système d’analyse EDX pour l’analyse chimique du matériau. Possibilité de travail de l’hélium liquide (20K) à 1000°C

Diffraction – Diffusion de rayon X :

Détermination structurale-microstructurale (structure, déformations, textures, tailles, contraintes, phases, épaisseurs, rugosités, compositions …), de l’échelle atomique à l’échelle méso- et macroscopique:

  • Analyse d’élargissements de raies (tailles, microdéformations, défauts)
  • Analyse de textures cristallines
  • Analyse de contraintes résiduelles
  • Analyse de phases (cristallines, amorphes)
  • Détermination de structures ab-initio
  • Réflectivité X (épaisseurs, rugosités profils de densité électronique)
  • Fluorescence X (composition)
  • Homogénéisation tensorielle
  • 3 diffractomètres 4-cercles avec détecteur CCD pour monocristaux (système de mise en froid), avec détecteur courbe PSD pour Analyse Combinée, haute-résolution pour couches minces
  • 3 diffractomètres 2-cercles dont 2 avec passeurs d’échantillons poudres pour séries (et un cryo-four), et 1 avec chambre en température haute résolution

 

AFM :

Brüker Innova :

  • Analyse de la rugosité de la surface, topographie, hétérogénéités chimiques
  • Analyse des colloïdes (mesure de taille) et des inclusions
  • Surface de 1 à 100 µm
  • Aspérités de 1 µm maximum
  • Résolution 0.4 nm

Visualisation macroscopique :

Caméra rapide :

  • Images haute résolution (1 mégapixel) avec des fréquences d’acquisition de plusieurs milliers d’images par secondes

Caméra infrarouge :

  • Mesure de températures
  • Longueur d’onde :  7-12 µm, Gammes de température :-40 – 120 °C / 0 – 500 °C / 350 – 1200 °C